Получил степень кандидата физико-математических наук ФТИ им. А.Ф.Иоффе РАН в 2002 году и степень доктора физико-математических наук ИАП РАН, Санкт-Петербург, Россия, в 2014 году. В сферу его научных интересов входит изучение процессов роста различных полупроводниковых наноструктур и их свойств, разработка новых приборов нано- и оптоэлектронки.
Получил степень кандидата физико-математических наук в Институте аналитического приборостроения (ИАП, РАН) в 2004 году, доктора физико-математических наук в ИАП РАН в 2011 году. Обладает обширными знаниями в областях: электромагнитная теория дифракции и рассеяния на дифракционных решетках, шероховатых зеркалах и нанокристаллах; уравнение Гельмгольца, уравнение Шредингера, нелинейные уравнения континуума, нейроморфные вычисления, машинное обучение. За время научной деятельности им было выпущено более 150 публикаций, зарегистрировано 7 патентов и 2 программы.
